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半导体材料体积电阻率测定仪
ATI-1000S型高温半导体材料体积电阻率测定仪/半导体电阻率测量仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率
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半导体材料体积电阻率测定仪
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卓立汉光PL光致发光光谱测量系统
PL光致发光光谱测量系统典型应用于LED发光材料、半导体材料的研究。
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宽禁带半导体荧光测试系统OminFluo990-DUV
碳化硅（SiC）是由碳元素和硅元素组成的一种化合物半导体材料，和氮化镓（GaN）都具有宽禁带宽度的特性，被称为第三代半导体材料。传统半导体材料Si和宽禁带半导体材料SiC、GaN的对比如下图所示。
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高品质显微激射荧光系统：半导体技术
半导体显微激射荧光系统半导体激光器的基本原理是通过外部电流注入，使得半导体材料中的电子和空穴复合，释放出光子。通过光学谐振腔，这些光子可以在特定波长处产生相干光，即激光。
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光致发光光谱成像测量系统
应用领域举例： LED外延片，太阳能电池材料，半导体晶片，半导体薄膜材料等检测与研究。
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深紫外探测系统-DSR300-DUV
1.p-n 结型当p型与n型半导体材料相结合时，在其接触界面处就会存在载流子浓度梯度，两种材料中的电子和空穴会在半导体间扩散。
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半导体材料体积电阻率测定仪-触摸屏
半导体材料体积电阻率测定仪GEST-123满足标准： GB/T3048.3-2007电线电缆电性能试验方法_第03部分：半导电橡塑材料体积电阻率试验 GB/T 15662
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精选国仪量子 国产数字锁相放大器 LIA001M
LIA001M 是一款集锁相放大、虚拟示波分析、参数扫描、解调绘图和数据分析等多种功能为一体的高性能锁相放大器。 基于高性能数字信号处理技术和先进的硬件设计，能够精确、快速的检测出淹没在强噪声中的微弱信号，是现代微弱信号 检测与分析的重要工具之一，可满足多种科研及工业用途应用需求。
国仪量子技术（合肥）股份有限公司 400-6699-117 转 4818免费咨询 -
精选麦奇克拜尔BELSORP MINI X全自动比表面积及孔径分布测定仪
基于BELSORP MINI II升级而来，是一款采用容量法测定样品比表面和孔径分布的分析仪，该仪器设计紧凑、分析精度高、重复性好、操作简便。仪器配备了3个或4个样品测量通道，每个通道都具有独立的压力传感器，这样能够保证样品测定的时候，高效率的定量进气和实时测定样品的饱和蒸气压。
大昌华嘉科学仪器 400-6699-117 转 8811免费咨询
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