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安捷伦典型半导体材料无机元素分析方案
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来源:安捷伦科技(中国)有限公司 应用
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FLS1000在半导体材料测试中的应用
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 相关产品:稳态/瞬态荧光光谱仪FLS1000 应用
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解决方案|ICP-OES法测定半导体材料制备工艺中镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌和硫含量
来源:北京东西分析仪器有限公司 相关产品:ICP-7760HP型全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪 应用
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国家高技术研究发展计划(863计划)新材料技术领域“高效半导体照明关键材料技术研发”重大项目申请指南
科技部10月26日发布了国家高技术研究发展计划(863计划)新材料技术领域“高效半导体照明关键材料技术研发”重大项目申请指南。
来源:sclbj 资料
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高分辩衍射仪XPert Pro MRD
来源:an001 资料
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解决方案|ICP法测定半导体行业生产用材料中镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌含量
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上海新阳半导体材料GPC测试报告
来源:赛默飞色谱与质谱分析 相关产品:赛默飞UltiMate3000制备液相色谱 应用
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微波消解 OLED 材料
来源:海能未来技术集团股份有限公司 相关产品:MDS-15高通量密闭微波消解/萃取/合成工作站 安全可靠 应用
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微波消解OLED材料
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
来源:muour 资料
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