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晶粒尺寸分析 Leica 晶粒专家 Leica Grain Expert
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LED芯片晶粒计数器
LC-Y型高精度LED芯片计数仪(晶粒芯片数粒仪)1.用途:通过拍照来获取蓝膜平面上的芯片图像,并自动计数得出颗粒数量。2.主要性能指标:具有微距拍摄特性自动对焦的大景深800万像素
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LT3600系列激光粒度分析仪具有衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术
和专利技术:◆ 偏振滤波技术◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术◆ 斜置梯形测量窗口◆ 格栅式超大角检测技术◆ 粒度分析模式优化及自适应技术◆ 双驱动进样分散集成技术
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德国徕卡 LAS X ID Modules针对金相和材料分析的软件
LAS X 晶粒专家软件:拥有出众准确性和再现性的晶粒分析LAS X 晶粒专家模块所提供的成像环境允许用户快速分析钢和其他材料的
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激光粒度仪LT2200E
多项创新和专利技术:◆ 偏振滤波技术◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术◆ 斜入射反傅里叶光路配置◆ 格栅式大角度检测阵列技术◆ 粒度分析模式优化及自适应技术◆ 连续液位感知及控制技术
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LT2200系列激光粒度分析仪
多项创新和专利技术:◆ 偏振滤波技术◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术◆ 斜入射反傅里叶光路配置◆ 格栅式大角度检测阵列技术◆ 粒度分析模式优化及自适应技术◆ 连续液位感知及控制技术
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激光粒度仪LT3600 Plus
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LT2200激光粒度仪
LT2200的技术性能和指标不弱于其他品牌激光粒度仪的最高水平,成为当今粒度仪市场具有极高性价比的产品。LT2200加持了以下多项创新和专利技术: ◆ 偏振滤波技术◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD
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工业标准 Leica Cast Iron Expert
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Q150V Plus 系列镀膜仪
针对高真空应用进行了进一步优化,最终真空度优于1×10-6mbar,同时配置全量程规,能够溅射具有晶粒尺寸更细的金属膜,适用于超高分辨率成像。
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