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晶粒尺寸分析 Leica 晶粒专家 Leica Grain Expert
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LT3600系列激光粒度分析仪具有衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术
和专利技术:◆ 偏振滤波技术◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术◆ 斜置梯形测量窗口◆ 格栅式超大角检测技术◆ 粒度分析模式优化及自适应技术◆ 双驱动进样分散集成技术
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LED芯片晶粒计数器
LC-Y型高精度LED芯片计数仪(晶粒芯片数粒仪)1.用途:通过拍照来获取蓝膜平面上的芯片图像,并自动计数得出颗粒数量。2.主要性能指标:具有微距拍摄特性自动对焦的大景深800万像素
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晶粒尺寸分析 Leica 晶粒专家 Leica Grain Expert
自动的, 客观和可重复的晶粒尺寸分析 Leica 晶粒专家 Leica Grain Expert晶粒度分析是用来评估材料特性用于帮助确定zei终产品的特性.Leica 晶粒专家提供用户一个晶粒
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德国徕卡 LAS X ID Modules针对金相和材料分析的软件
LAS X 晶粒专家软件:拥有出众准确性和再现性的晶粒分析LAS X 晶粒专家模块所提供的成像环境允许用户快速分析钢和其他材料的
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基恩士 VHX-7000 超景深数码显微系统 用于结晶粒度测量
集观察、拍摄、测量于一体;细微凹凸清晰呈现、直逼 SEM 的观测图像;可轻松拍摄出高质量图像的全新操作系统;VHX高精细度
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LED芯片计数仪晶粒计数器
。输出数据格式兼容EXCEL、ACCESS、SQL等数据库软件。本产品通过拍照来获取蓝膜平面上的芯片图像,并自动计数得出颗粒数量。LC-Y型高精度LED芯片计数仪(晶粒芯片数粒仪)1.用途:通过拍照
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牛津仪器Symmetry S3 全能型EBSD探测器 快速/多功能分析
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理学 Ultima IV 粉晶X射线衍射仪
等。仪器用途:可用于测定各种粉末、块状、薄膜等样品的物相定性与定量分析,计算结晶化度、晶粒大小等。仪器简介: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线
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激光粒度仪LT2200E
多项创新和专利技术:◆ 偏振滤波技术◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术◆ 斜入射反傅里叶光路配置◆ 格栅式大角度检测阵列技术◆ 粒度分析模式优化及自适应技术◆ 连续液位感知及控制技术
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