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EST-L 主动式防震系统
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P-17 台阶仪
P-17 Stylus Profiler P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。
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Alpha-Step D-600 台阶仪
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F40薄膜厚度测量仪
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统
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F60-t 薄膜厚度测量仪
自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以
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R50四探针电阻率测量仪
R50电阻率测量仪 Filmetrics R50系列提供接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50以快1点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台使用你准缩
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