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美商菲乐四探针电阻率测量仪R50
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供两种测量方式:接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50能够以1点/秒的速度测量导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用通用或
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R50四探针电阻率测量仪美商菲乐
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50以快1点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台使用你准缩厂收益或定制制样品
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EST-L 主动式防震系统
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪美商菲乐
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一款自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台能够自动移动到选定的测量点,并提供快速的厚度
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪F54-XY-200
F54-XY-200薄膜厚度测量仪能够利用先进的光谱反射系统,快速、轻松地测量大尺寸200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台可以自动移动到选择的测量点,并提供每秒两点的快速厚度测量。您可以从
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪美商菲乐
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台,可自动移动到选定的测量点,并提供每秒
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KLA 纳米力学测试仪iMicro
纳米力学测试仪 iMicro灵活易用的力学测试可广泛用于各种材料和应用iMicro专为压痕、硬度、划痕测试和多元化纳米级测试等纳米级力学测试设计。iMicro具有多量程加载驱动器,实现在宽泛的荷载和
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P-7 台阶仪
P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需
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P-17 台阶仪
P-17 Stylus Profiler P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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