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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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皮米级绝对距离测量干涉仪
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Nikon 干涉测量镜头
Nikon 干涉测量镜头1)适合非接触光学压型2)可选Michelson 和 Mirau 镜头3)200mm镜筒远场校正设计干涉测量镜头可用在非接触光学压型测量设备上,通过此镜头可得到表面位图和表面
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徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统
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WIVS-Ⅲ型白光干涉三维轮廓测量仪
(7)微光学元件测量 二、仪器构成 (1)宽带光干涉显微镜 (2)垂直位移扫描工作台 (3)摄像及图像处理系统 (4)工控机 三、测量原理 (1)相移扫描干涉(PSI) (2
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OCT 级干涉模组IFM
IFM100 及IMF200 是Mach-Zehnder 型干涉仪模组,通常为每个客户的OCT 系统配置而订制,可将PS-OCT 包括在内。IFM-100/200可包含诸如可见指引光、电控
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WIVS-II型 垂直扫描白光干涉表面轮廓测量仪
仪器的原理,主要构成与特点与WIVS-I型 基本相同,其区别如下: 1 、干涉显微镜为自主设计,具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等显微镜组,用户可根据测量视场范围及
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白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪
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动态干涉仪Kaleo-Multiwave
有别于基于传统Fizeau 干涉仪的方法,采用位相检测方法直接构建的动态干涉仪既不需要移动待测元件多次曝光,也不需要采用偏振等复杂的光学手段,针对待测元件进行一次测量即可获得其反射面型或透过
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干涉测量实验装置
仪器简介:该仪器主要利用导轨、支架及光学组件、如双棱镜分成两束光,将两束光相遇产生的明暗相间的干涉条纹用读数显微镜测出条纹间距,再用二次成像绘测出一大、一小两个缝像(即虚光源S1、S2
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