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DKF10-MH型痕量级气体分析仪
测量,更进一步提高了非线性补偿技术,可实现宽量程可达5级的线性动态量程比。技术参数响应时间:据通道积分时间(C.I.T.)和气体置换周期,典型30s到几分钟; 检测限:根据气体,典型sub-ppm,可
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干涉测量实验装置
束光相遇产生的明暗相间的干涉条纹用读数显微镜测出条纹间距,再用二次成像绘测出一大、一小两个缝像(即虚光源S1、S2)之间的距离代入公式即可。 仪器简介:该仪器主要利用导轨、支架及光学组件、如双棱镜
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干涉测量实验装置
仪器简介:仪器特点: 该仪器主要利用导轨、支架及光学组件、如双棱镜分成两束光,将两束光相遇产生的明暗相间的干涉条纹用读数显微镜测出条纹间距,再用二次成像绘测出一大、一小两个缝像
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红外干涉测量设备FSM 413
测量方式: 红外干涉(非接触式)样本尺寸: 50、75、100、200、300 mm测量厚度: 30 — 780 μm (单探头)3 mm (双探头总厚度测量)扫瞄方式: 半自动及全自动型号
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薄膜厚度测量系统Delta白光干涉测厚仪
干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围
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电子散斑干涉测量仪(ESPI)
场的相关条纹来检测双光束波前后之间的相位变化。电子散斑干涉技术(ESPI)是一种非接触式全场实时测量技术,可完成位移、应变、表面缺陷和裂纹等多种测试,其具有通用性强、测量精度高、测量简便等优点
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干涉米氏成像激光粒径测量仪
: 不可用 形状:否 速度:是 形态:否LaVision公司的ParticleMaster IMI基于米氏成像干涉计量技术。 仪器简介:LaVision公司的ParticleMaster IMI
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VS1800 纳米尺度3D光学干涉测量系统
×20 ×50 ×110样品高度标准0~50 mm使用加高配件时50~100 mm0~100 mm电脑OSWindows 10减震台(带支架)被动式或主动式纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用
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光纤干涉仪
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激光干涉仪
Today's optics need today's metrologyThe S100/HR is a modern interferomrter providing
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