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Suna硅片 SC-25-45
衍射实验中的一个关键参数是信噪比和相关可实现的分辨率。Suna硅片允许以最小的背景散射水平进行衍射实验。根据芯片的尺寸和几何形状,它们可以容纳200000个微晶进行连续晶体学实验。由于使用了单晶硅
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Suna硅片 SC-4-10
衍射实验中的一个关键参数是信噪比和相关可实现的分辨率。Suna硅片允许以最小的背景散射水平进行衍射实验。根据芯片的尺寸和几何形状,它们可以容纳200000个微晶进行连续晶体学实验。由于使用了单晶硅
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薄膜应力和硅片翘曲检测仪
基于Optilever激光扫描技术。 使用应力控制,避免薄膜分层,形成凹凸状。 光学设计减少图形衬底对激光的干涉。 在TSV, 半导体以及LED工艺上控制基底弯度。 在平板显示行业,控制玻璃的平整度
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日本MSA 高温炉 硅片加热炉 RP10020
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 可再生能源:硅块、硅片、太阳能电池
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硅片表面形貌测量 AFM
价格电议英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片表面形貌
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太阳能硅片厚度仪
太阳能硅片厚度仪采用机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534
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硅片全自动清洗机
上海申源科学仪器有限公司生产硅片清洗机清洗机有自动、手动系列产品。用于半导体芯片、衬底片的清洗及湿法腐蚀、去胶、去蜡、剥离等工艺的用设备。
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硅片表面形貌测量VIT系列
硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth, top
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PIKE红外光谱硅片分析系统
PIKE红外光谱硅片分析系统PIKE技术公司提供了全自动的分析配件 半导体晶片。我们的MappIR和MAP300配件提供了EPI、BPSG、2- 12英寸(50-300毫米)的氧和碳的分析
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