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梅特勒托利多 CV Combination
召回并减少浪费检测灌装不足和过量灌装产品,确保符合称量法规并减少浪费。检查标签数据和质量缺陷,防止召回。尺寸较小单个机架仅需四个支脚着地,可显著节省空间。共用传送带和处理组件可降低成本。降低总拥有
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梅特勒托利多 V15 Label Inspection 360° System
V15 Label Inspection 360° System紧凑、高效、可靠.这种节省空间的解决方案可检测圆形产品上的标签数据和质量缺陷。六个图像传感器采用紧凑型设计,可轻松安装在现有输送机
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梅特勒托利多 V11 Label Inspection System
V11 Label Inspection System适应性强、可集成且成本效益高.这种灵活的标签检测解决方案能可靠地从侧面或顶部检查定向产品的标签数据和质量缺陷。它可以利用智能摄像头、照明和软件
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光学表面缺陷分析仪
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脉宽可调纳秒激光器(芯片缺陷检测用)
脉宽可调纳秒激光器(芯片缺陷检测用) 脉宽可调纳秒激光器(芯片缺陷检测用)脉宽可调纳秒激光器(芯片缺陷检测用)此系列激光器为单模激光器,通过内置从输入的TTL/
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小鼠HGPRT基因缺陷型骨肉瘤细胞菌种冰箱FYL-YS-50L
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表面视像缺陷检测系统
表面视像缺陷检测系统表面视像缺陷检测系统的主要优点:1、技术领先,60MHz高速行扫描CCD技术,每秒可最大扫描14,000次,防止漏验。2、独特的LED光源技术,高亮度,高寿命,低能耗。3、生产
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电池缺陷检测仪
电池缺陷检测仪XG5000广泛应用电池行业检测电池的内部缺陷和实效分析。用户可以通过这款仪器获得高质量、高放大倍率、高分辨率的电池内部图像,对电池内部的正负极以及内部结构进行
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Leica LAS Store and Recall Module
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半导体缺陷分析 纳克微束高分辨场发射扫描电镜 FE-1050系列
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