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电子探针EPMAEPMA-1720系列电子探针 玻璃条纹缺陷的SPM-EPMA分析
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目,参考多项行业标准/ VBA。可以检测 玻璃 等样品。可应用于多个行业领域。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和
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梅特勒托利多 CV Combination
召回并减少浪费检测灌装不足和过量灌装产品,确保符合称量法规并减少浪费。检查标签数据和质量缺陷,防止召回。尺寸较小单个机架仅需四个支脚着地,可显著节省空间。共用传送带和处理组件可降低成本。降低总拥有
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梅特勒托利多 V15 Label Inspection 360° System
V15 Label Inspection 360° System紧凑、高效、可靠.这种节省空间的解决方案可检测圆形产品上的标签数据和质量缺陷。六个图像传感器采用紧凑型设计,可轻松安装在现有输送机
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梅特勒托利多 V11 Label Inspection System
V11 Label Inspection System适应性强、可集成且成本效益高.这种灵活的标签检测解决方案能可靠地从侧面或顶部检查定向产品的标签数据和质量缺陷。它可以利用智能摄像头、照明和软件
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光学表面缺陷分析仪
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电子探针EPMA电子探针EPMA-1720系列 适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析
岛津电子探针EPMA-1720系列用于测定 玻璃 ,符合行业标准/ VBA。适用 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试
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帕克 NX-HDM 原子力显微镜 媒介自动缺陷检查
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帕克 NX-HDM 原子力显微镜 基体自动缺陷检查
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HORIBA 堀场HORIBA能散型XRF 适用于品质控制,缺陷分析
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜用于测定树脂嵌入式芯片,柔性电路板,多层印刷版,符合行业标准0。适用品质控制,缺陷分析项目。 结合光学图像,高速高准确度进行元素测量
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国仪量子SEM3200扫描电镜 适用于表面缺陷和结构形状
国仪量子 扫描电子显微镜 SEM3200可用于测定光伏电池,适用于表面缺陷和结构形状项目。并且参考多项行业标准太阳能电池绒面的研究。可应用于电子/半导体行业领域。 五分割半导体背散射探测器——多
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