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荧光寿命测量系统HALCYONE
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LIFA荧光寿命系统附件
LIFA荧光寿命系统附件LIFA是适用于荧光寿命显微成像(FLIM)。该设备可以利用频域技术在任何宽场显微荧光成像系统获得寿命变化相关图像。系统包含TRiCAM M可调制型像增强CCD相机,可调
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FluoroCube / UltraFast荧光寿命测试系统
荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外,可见,或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒,或更长的寿命范围。
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DynaMyc 荧光寿命成像显微系统
HORIBA科学仪器部是荧光光谱仪的领导者,推出的DynaMyc是基于滤光片式,全自动共焦显微镜系统,可在微观尺寸下测试荧光寿命和强度。
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卓立汉光FLIM荧光寿命成像系统
、几百纳秒尺度的物质的选择。参数指标:系统性能指标光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm
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DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统
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荧光寿命成像超快光谱测试系统
测试系统技术参数 荧光寿命成像光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-10μs空间分辨率≤1μm@100X物镜@405nm皮秒脉冲激光器条纹相机光谱测量范围
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荧光寿命测量系统
HALCYONE是一款一体化的荧光测量系统,包含一个荧光上转换光谱仪和一个时间相关单光子计数仪。在采用上转换模式时,HALCYONE的时间窗口是3.3ns,时间分辨率可达飞秒量级
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HORIBA Ratio Master荧光比率显微测量系统
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昊量光电便携式FLIM荧光寿命测量TDC
便携式FLIM荧光寿命测量tdc昊量光电新推出紧凑型,USB驱动的便携式FLIM荧光寿命测量TDC,专为荧光寿命成像和光谱测量而设计
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