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荧光寿命测量系统HALCYONE
角度荧光寿命测量系统HALCYONE信息由科艺仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于荧光寿命测量系统HALCYONE报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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LIFA荧光寿命系统附件
LIFA荧光寿命系统附件LIFA是适用于荧光寿命显微成像(FLIM)。该设备可以利用频域技术在任何宽场显微荧光成像系统获得寿命变化相关图像。系统包含TRiCAM M可调制型像增强CCD相机,可调
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分子荧光堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统 荧光寿命:时域荧光或频域荧光
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统用于测定时域荧光,频域荧光,符合行业标准0。适用荧光寿命项目。 HORIBA Scientific(Jobin Yvon
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FluoroCube / UltraFast荧光寿命测试系统
荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外,可见,或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒,或更长的寿命范围。
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DynaMyc 荧光寿命成像显微系统
HORIBA科学仪器部是荧光光谱仪的领导者,推出的DynaMyc是基于滤光片式,全自动共焦显微镜系统,可在微观尺寸下测试荧光寿命和强度。
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荧光寿命测试系统堀场HORIBA分子荧光 适用于寿命衰减
Fluorocube产品系列: • FluoroCube NL:滤光片分光系统及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 • FluoroCube-01-NL:发射单色器及二极管激发光源
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荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast分子荧光 可检测NATA
系列: • FluoroCube NL:滤光片分光系统及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 • FluoroCube-01-NL:发射单色器及二极管激发光源---基本的荧光寿命测量系统
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DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统
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卓立汉光FLIM荧光寿命成像系统
、几百纳秒尺度的物质的选择。参数指标:系统性能指标光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器空间分辨率≤1μm@100X 物镜@405nm
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荧光寿命成像超快光谱测试系统
测试系统技术参数 荧光寿命成像光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-10μs空间分辨率≤1μm@100X物镜@405nm皮秒脉冲激光器条纹相机光谱测量范围
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