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Ultim Extreme 硅漂移探测器
Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱,晶体
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硅漂移探测器EDSX-MaxN 可检测and
无需为能谱分析改变SEM的条件在相同束流下,极大地提高计数率缩短采集时间统计性更高实现小束斑下的能谱分析提高能谱检测的空间分辨率尽可能体现高分辨电镜的优势晶体面积越大,X-射线计数效率越高相同条件下
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硅漂移探测器EDS牛津仪器 可检测and
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Metals alloys and ceramics项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Metals alloys
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牛津仪器EDS硅漂移探测器 失效分析
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牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器
X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,精确分析几乎所有类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。
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牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器
Ultim Max是新一代硅漂移型探测器(SDD),配有大面积晶体和低噪音电子元器件,分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。 Ultim Max采集效率可达以往的17倍,而且不会降低精度。无论您是
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EDS牛津仪器硅漂移探测器 失效分析
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Power Semiconductors,适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 可检测and
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定Minerals and Metals,适用于Minerals and Metals项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments
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硅漂移探测器EDSX-MaxN 可检测and
面积或大或小,X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012无论晶体尺寸如何,能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置完全一致,确保相同条件下,计数率的增加只源于晶体尺寸的增加强大的
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SDD硅漂移探测器
SDD探测器SDD探测器广泛的应用于XRF分析仪器制备,科学研究以及宇宙探索等诸多领域。按照产品的功能分类,SDD的探测器分为 VIAMP,VICO-DV, AXAS-A/D,AXAS-M、五个系列
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