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美商菲乐四探针电阻率测量仪R50
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供两种测量方式:接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50能够以1点/秒的速度测量导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用通用或
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R50四探针电阻率测量仪美商菲乐
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50以快1点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台使用你准缩厂收益或定制制样品
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EST-L 主动式防震系统
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F54 薄膜厚度测量仪
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达
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mini 桌上型主动式隔振台
mini 桌上型主动式隔振台全新设计,更易使用,卓越的隔振性能。重要特征*空间6自由度主动减振-拥有全频段出色的抗振动效果,同时没有共振*LCD-加速度时间波形显示/加速度频谱显示*洁净室兼容设计
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪美商菲乐
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一款自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台能够自动移动到选定的测量点,并提供快速的厚度
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪F54-XY-200
F54-XY-200薄膜厚度测量仪能够利用先进的光谱反射系统,快速、轻松地测量大尺寸200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台可以自动移动到选择的测量点,并提供每秒两点的快速厚度测量。您可以从
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪美商菲乐
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台,可自动移动到选定的测量点,并提供每秒
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KLA 纳米力学测试仪iMicro
纳米力学测试仪 iMicro灵活易用的力学测试可广泛用于各种材料和应用iMicro专为压痕、硬度、划痕测试和多元化纳米级测试等纳米级力学测试设计。iMicro具有多量程加载驱动器,实现在宽泛的荷载和
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P-7 台阶仪
P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需
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