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Nanosurf Flex-ANA自动力谱成像原子力显微镜
高起伏样品或多个样品自动纳米机械性能分析。 Nanosurf Flex-ANA自动力谱成像原子力显微镜产品主要特点:高起伏样品或多个样品自动纳米机械性能分析针对不同模型来测量粘弹性、硬度
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Nanosurf AFSEM™真空环境用原子力显微镜
型号: AFSEM™本产品可适配真空腔室环境兼容大气环境测量。 Nanosurf AFSEM™真空环境用原子力显微镜产品主要特点:实时在您的真空环境中进行AFM分析方便集成在SEM中进
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XL2 100G 手持式合金分析仪
从开机到按下板机,分析结果几乎瞬间得出。 Niton XL2 100G XRF 分析仪 手持式合金分析仪Thermo Scientific Niton XL2 100G 具有以下显著
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F60-t 薄膜厚度测量仪
依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。 自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台
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mini 桌上型主动式隔振台
空间6自由度主动减振-拥有全频段出色的抗振动效果,同时没有共振。 mini 桌上型主动式隔振台全新设计,更易使用,卓越的隔振性能。重要特征*空间6自由度主动减振-拥有全频段出色的抗振动
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P-17 台阶仪
型号: P-17P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。 详细介绍P-17 Stylus ProfilerP-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于
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α200系列低频消磁系统
UNICORN α200系列低频消磁系统(EMI Canceling System,又称消磁器), 是在 G3000系列基础上研发的新一代产品, 采用高精度纯直流测量/反馈 /控制电路
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F20 薄膜厚度测量仪
膜层范例基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。这包括几乎所有的电介质与半导体材料,例如:SiNXTiO2DLC光刻胶SU-8聚合物有机电致发光器AIQ材料非晶硅ITO硒化铜铟镓
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Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
产品包括 FS-1™多波长椭偏仪,带紧凑自动 mapping 样品 台,可以实现快速,准确和可靠的薄膜均匀性测量。特点和参数n 4 段波长的椭偏数据(465, 525, 580, 635 nm
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HERZ TS系列 主动式隔震系统防震台
型号: TS系列稳定的支架可以进一步提高TS系列减震系统的隔震性能。 ERZ创建一个稳定的测量环境稳定的支架可以进一步提高TS系列减震系统的隔震性能主动式隔震系统可以消除震动振幅在
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