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牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器 强大低能端分析
X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,精确分析几乎所有类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。
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低能离子散射谱LEIS QtacQtac 100IONTOF 型 低能(LEIS) 产品彩页 中文
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安捷伦7250气质 使用具有低能量 EI 的 GC/Q-TOF 检测肺结核感染的小鼠的肺部代谢变化
相色谱分析的化合物鉴定、定量和研究提供全谱、高分辨率的精确质量数据。电子轰击离子源具有低能量 EI 功能。 通过高分辨率的精确数据结果和高灵敏度检测鉴定化合物。在广泛的动态范围内准确定量分析物,同时
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IONTOF 低能离子散射谱LEIS Qtac
低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱(Low-Energy In Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面,与样品
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德国徕卡 三离子束切割仪 EM TIC 3X
效率和灵活性三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X——新版 EM TIC 3X 恪守我们的格言:与用户合作,使用户受益”,以注重实用性的方式将性能和灵活性理想融合。最新的 EM TIC 3X
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切割机德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X徕卡 Leica EM TIC 3X三离子束切割仪产品单页
点击查看下载切割机德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X徕卡 Leica EM TIC 3X三离子束切割仪产品单页相关资料,进一步了解产品。 徕卡Leica EM TIC 3X可通过离子束侧面轰击
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FIB-SEMAquilos 2 Cryo-FIB(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜 样本
点击查看下载FIB-SEMAquilos 2 Cryo-FIB(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜 样本相关资料,进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Thermo Scientific
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赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜
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徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品:EM TIC 3X三离子束研磨仪
EM TIC 3X是一款离子束研磨仪,用于制备扫描电子显微镜 样品。可以制备样品的横截面以及大面积表面。 样品的横截面还可以使用低能离子束再次处理。该处理过程既 可以清洗横截面,也能增强其衬度。 另外
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Agilent 气相色谱系统安捷伦7890B 使用具有低能量 EI 的 GC/Q-TOF 检测肺结核感染的小鼠的肺部代谢变化
安捷伦Agilent 气相色谱系统7890B可用于测定感染肺结核的小鼠肺组织,适用于代谢产物项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 具备集成智能功能的 Agilent 7890B 气相
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