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枝晶评估 Leica Dendrite Expert
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理学 Ultima IV 粉晶X射线衍射仪
Ultima IV组合型是日本理学公司生产的Ultima系列中第四代最新型组合多功能高分辨的粉晶X射线衍射仪。利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析
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X射线衍射XRDX射线衍射仪 岛津 适用于测定晶型
岛津X射线衍射XRDXRD-7000可以用在原料药/中间体行业领域,用来检测药品片剂、牙齿、球型巧克力,可完成测定晶型项目。符合多项行业标准。 易操作、多功能、多用途的X射线衍射仪
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非晶硅平板探测器
非晶硅X 射线探测器非晶硅(硒)X 射线平板探测器广泛用于高能辐射的应用中。万睿视公司有超过 20 年的经验 , 为全球超过 20000 客户提供标准和定制探测器,广泛应用于医学、兽医
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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激光准直系统
激光准直系统闭环反馈控制激光束准直与稳定,高速高精度。激光束准直系统使用2个PSD 2D探测光束指向和位置偏移量,闭环反馈控制快速反射镜实时补偿光束偏移。此系统已广泛应用于强场激光物理,超快激光应用
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Agilent 全能型分光光度计 (UMS)紫外安捷伦 可检测涂层晶圆
安捷伦紫外Cary 7000用于测定涂层晶圆,符合行业标准。适用反射率,透射率 项目。 在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一方法来表征光学带隙能量相近的材料。Cary
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CSS 准直太阳光模拟器
高达98%。光源的全部控制通过软件完成,用户可以通过软件控制光源并调整输出强弱。CSS准直太阳光模拟器产品特点:· 近似太阳光光谱· 等同太阳辐照度· 光版内均匀度可达98%· 可调辐照度水平· 工作
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A36双晶64晶片线性探头
在近期发布了全新A36双晶64晶片线性探头。全新A36双晶64晶片线性探头的推出,将在大壁厚情形下,协助塑造更为优质的焊缝检测解决方案。更强穿透力A36双晶64晶片线性探头通过将通道数量加倍,进而
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