-
理学 Ultima IV 多功能X射线衍射仪 薄膜样品分析
射线探测器--测量X射线强度的计数装置;4、X射线系统控制装置--数据采集系统和各种电气系统、保护系统。仪器简介: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X
-
芯硅谷 PVC薄膜
-
薄膜,片材在线测厚仪
-
多功能薄膜制备系统-nanoETCH
-
多功能薄膜制备系统-Nano PVD
-
多功能薄膜制备系统-Nano CVD
-
安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
-
SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
-
实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
薄膜具有多孔的材料特性,可以获得用于电子传递的高界面表面积。控制这些界面结构对这类体系性能是至关重要的。 关键功能在最短的测量时间内提供出色的数据质量SAXSpoint 5.0 采用高光谱纯度和无
-
薄膜分布分析仪贝克曼库尔特DelsaNano C 固体及薄膜表面分析仪
点击查看下载薄膜分布分析仪贝克曼库尔特DelsaNano C 固体及薄膜表面分析仪相关资料,进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net