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多功能薄膜制备系统-nanoETCH
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多功能薄膜制备系统-Nano CVD
多功能薄膜制备系统-Nano CVD产品简介:NanoCVD系列台式设备是专为制备高质量的石墨烯与碳纳米管而开发的高性能台式CVD系统。在与诺奖级科研团队的长期合作中获得的丰富经验使该系列产品具有
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多功能薄膜制备系统-Nano PVD
尺寸4英寸,系统有智能化的触屏控制系统,采用完备的安全设计方案。高度集成化的高真空高性能台式PVD系统。优越、高效的性能适用于众多薄膜的研究工作。 多功能薄膜制备系统-Nano PVD基于多年大型
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PP薄膜-PE薄膜-PVC
,仅二个步骤即可显示密度值。显著的特点是测量精准、操作简便快捷、稳定耐用、经济实用,适合生产现场和品质监测等领域。 PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300采用一体注塑成型大容量测量配件
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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪产品特点:通用表座采用空气阴尼装置,测量稳定可靠集光、机、电、算于一体,体积小,使用方便备有精密可调的多功能测量工作台选购备有RS232通讯接口可与计算机进行通讯采用计量光栅作长度长
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薄膜烘箱
、延度及脆点等性质的变化,以评定沥青的老化性能。 薄膜烘箱主要特点: 1、工作室为不锈钢内胆。 2、智能数显控温仪自动控温,测量精确,并具备误差修正功能。 3、鼠笼风扇搅拌,控温精确,装样关门
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PET薄膜
PET薄膜形状 有无保护膜长×宽最小厚度片材有20×30cm Min-200um片材无20×30cm Min-125um用途制备PET石墨烯膜,或者其他用途特点高透光度,表面无水波纹,无晶点
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薄膜测厚仪
产品简介:高精度薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式,专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。主要参数: 专业名称:测厚仪 测量范围:0
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薄膜测厚仪
薄膜测厚仪仪器简介:提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图
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ZF1-1S(薄膜开关)多功能紫外分析仪 (停产)
·紫外波长LCD液晶显示,具有自动延时关闭紫外灯功能,延长紫外光源寿命。 品 名ZF1-IS(薄膜开关)多功能紫外分析仪ZF1-I多功能紫外分析仪紫外滤光片面积200×200mm反射滤光片
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