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牛津仪器半导体检测仪刻蚀和沉积设备 半导体制造
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
)来测量膜层厚度,因此可以测试一些肉眼看是不透明的膜层( 比如半导体膜层) 。980nm波长型号,F3-s980,专门针对低成本预算应用。F3-s1310针对于高参杂硅应用。F3-s1550则针对
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PlasmaPro 100 Cobra半导体检测仪牛津仪器 应用于电子/半导体
点击查看下载PlasmaPro 100 Cobra半导体检测仪牛津仪器 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 牛津仪器PlasmaPro100 ALE 原子层刻蚀 PlasmaPro 100
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牛津仪器PlasmaPro 100 ALE半导体检测仪 应用于电子/半导体
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Power Semiconductors的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Power
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半导体检测仪牛津仪器PlasmaPro 100 Cobra 应用于电子/半导体
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra适用于Semiconductor项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Semiconductor等样品。可应用
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半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE牛津仪器 应用于电子/半导体
牛津仪器原子层刻蚀PlasmaPro 100 ALE适用于Power Semiconductors项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power
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PlasmaPro 100 ALE牛津仪器半导体检测仪 应用于电子/半导体
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE可以用在高分子材料行业领域,用来检测Semiconductor,可完成Semiconductor项目。符合多项行业标准Oxford
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安捷伦Cary 5000紫外 应用于电子/半导体
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可用于测定抗反射涂层,玻璃,建筑玻璃,金属/合金,激光镜片,适用于反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度,光学常数项目
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安捷伦Cary 4000紫外 应用于电子/半导体
点击查看下载安捷伦Cary 4000紫外 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 由于仪器的光度线性范围限制,仪器随着光密度或浓度的增加测量吸光度的准确度会受到影响。光度线性度差会使仪器产生
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Cary 5000紫外安捷伦 应用于电子/半导体
安捷伦紫外Cary 5000适用于表征,透射性,杂质检测和识别项目,参考多项行业标准。可以检测滤光片,玻璃等样品。可应用于建材/家具行业领域。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于
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