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7-PLSpec 系列光致发光光谱测试系统
本系统可以测试半导体材料或其他发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。通常情况下采用紫外或近紫外激光激发半导体材料(如GaN、Zno、CdTe 等)产生荧光;或用可见、红外激光器激发稀土参杂的
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高功率半导体激光模块
30W模块参数50W模块参数半导体激光阵列DioMod/A/-xxx-40 (xxx = Wavelength)激光驱动和TEC控制器。用于高功率半导体激光模块,优化设计,在工业应用和研发实验室中表
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半导体电阻率测试
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测最大厚度达3毫米。 F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统F3-sX
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等离子体热处理炉
仪器特点及基本参数:具有等离子体清洗、表面修饰、表面处理、表面活化的功能;具有真空能力(10-5mbar);芯片倒装凸点(Bump);凸点焊接;键合;功率器件焊接;样品尺寸:170X200mm
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石墨烯生长炉
技术规格如下:1. 石英管及工艺炉 QUARTZ TUBE & FURNACE - Tube Dimensions: ф100*1200mm - Furnace Body
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SPS-2200手动探针台
技术规格:技术规格SPS-2000SPS-2200样品尺寸不大于 150mm不大于200mm样品台XY移动范围155mmx155mm200mmx200mm样品台XY移动分辨率5um5um样品台
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变场磁体Variable Flux Magnet
型号: EVM-100 本产品可以搭配HMS-3000标准型号的霍尔效应测试仪使用。 变磁场磁体模块 Variable Flux Magnet Kit 可以搭配
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RTP-100-RP快速退火炉(中温/低价位
快速退火炉(RTP/RTA)是半导体材料和器件常用的一款工艺设备。RSO-200快速退火炉可以在真空、惰性气氛、不同的工艺气体环境下使用,适用于样品尺寸大、但是退火温度不太高的样品。仪器特点
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Rame Hart接触角测量仪
技术参数:样品台尺寸:2x3 in (51 x 76mm)样品尺寸:可达到12 in (300mm) deep x unlimited接触角范围:0-- 180°接触角分辨率:0.1°接触角精度
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