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Symmetry 探测器EBSD系统牛津仪器 半导体器件综合分析
牛津仪器EBSD系统EBSD可以用在纳米材料行业领域,用来检测Semiconductor Devices,可完成Semiconductor Devices项目。符合多项行业标准Oxford
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EBSD系统牛津仪器Symmetry S2 半导体器件综合分析
牛津仪器EBSD系统Symmetry S2可用于测定Semiconductor Devices,适用于Semiconductor Devices项目。并且参考多项行业标准Oxford
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AZtecFeatureSEM专用颗粒物分析系统 — 牛津仪器 半导体器件综合分析
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X射线能谱仪EDS能谱实时元素成像系统Azteclive 半导体器件综合分析
牛津仪器X射线能谱仪EDSAzteclive可用于测定Semiconductor Devices,适用于Semiconductor Devices项目。并且参考多项行业标准Oxford
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国仪量子 国产半导体材料 半导体器件 数字锁相放大器 LIA001M
LIA001M配合丰富的模拟输入输出接口,集可视化锁相放大器、虚拟示波器、参数扫描仪、信号发生器、PID控制器等多种功能于一体,有效的简化科研工作流程和设备依赖,提高科研效率和质量,有内部参考、外部
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半导体器件参数测试仪系统
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Cole-Parmer FSB-200-P系列沙浴 用于半导体器件热测试
Cole-Parmer沙浴具有卓越的温度稳定性和均匀性,与可选的探头架配件一起用于温度传感器的校准时,稳定性和均匀性优于 0.010°C。
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Cole-Parmer FSB-200-P系列沙浴 用于半导体器件线材产品测试
Cole-Parmer沙浴具有卓越的温度稳定性和均匀性,与可选的探头架配件一起用于温度传感器的校准时,稳定性和均匀性优于 0.010°C。
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半导体功率器件静态参数测试仪系统
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Cole-Parmer FSB-200-P系列沙浴 用于半导体器件精密传感器
Cole-Parmer沙浴具有卓越的温度稳定性和均匀性,与可选的探头架配件一起用于温度传感器的校准时,稳定性和均匀性优于 0.010°C。
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