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半导体分立器件AEC-Q101认证试验
AEC-Q101对对各类半导体分立器件的车用可靠性要求进行了梳理。AEC-Q101试验不仅是对元器件可靠性的国际通用报告,更是打开车载供应链的敲门砖。 广电计量在SiC第三代半导体器件的AEC-Q
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AEC-Q101认证试验
广电计量在SiC第三代半导体器件的AEC-Q认证上具有丰富的实战经验,为您提供专业可靠的AEC-Q101认证服务,同时,我们也开展了间歇工作寿命(IOL)、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB
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功率器件参数测试
广电计量积极布局第三代半导体功率器件的测试业务,引进国际先进的测试技术,为功率半导体产业上下游企业提供器件参数检测服务,助力器件国产化、高新化发展。测试项目包括:静态参数、动态参数、热特性、雪崩耐量
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电阻器元器件筛选
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电容器元器件筛选
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磁珠元器件筛选
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电感器元器件筛选
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变压器元器件筛选
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电子元器件筛选
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电子元器件破坏性物理分析(DPA)
谐振器;继电器;半导体分立器件(二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等);电连接器;开关及面板元件;半导体集成电路(时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器
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