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安东帕MHT³微米压痕仪 测量块状材料
一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕从小位移(几纳米)到大位移(最大 1 mm)的压痕大载荷范围(从10 mN 到 30 N)以满足样品特性的要求大载荷范围 对测量粗糙表面尤为有用仪器化压入测试
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理学 MiniFlex 600 块状样品分析 X射线衍射仪
该设备可用于普通粉末样品、块状样品、片状样品、非晶样品等的物相分析(定性、定量分析)等。块状样品要求:测试面清洁平整,形状为板状、片状或丝状,除块体外、也可是有衬底的薄膜或镀层,样品整体厚度≤2mm
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安东帕UNHT³ HTV高温高真空超纳米压痕仪 测量薄膜到块状材料
高温超纳米压痕测试仪 (UNHT3 HTV)全球真正意义的商品化的高温高真空超纳米压痕仪,主要测量小载荷下纳米尺度机械性能的测试系统,温度在 800 °C 以下的薄膜和涂层的硬度和弹性模量。专利
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天瑞仪器 块状物料 WDX400E波长色散光谱仪
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ARL Optim’X赛默飞波散型XRF 可检测块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜
赛默飞波散型XRFARL Optim’X可以用在地矿/有色金属行业领域,用来检测块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜 ,可完成元素分析项目。符合多项行业标准。 ThermoFisher
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赛默飞 X射线荧光光谱仪能散型XRF 可检测块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜
赛默飞 X射线荧光光谱仪ARL 9900可以用在煤炭行业领域,用来检测块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜 ,可完成元素分析项目。符合多项行业标准。 ThermoFisher ARL
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贝士德 BSD-TD 真密度分析仪 用于 真密度测试(粉末、颗粒、块状)
真密度分析仪,真密度测试仪,真密度测定仪,能准确测定各种材料真密度;具有多项技术专利,独创的测试方式,使其应用领域较同类仪器更广,测量结果精确度更高,分析材料的体积范围更宽。
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贝士德 BSD-TD1 全自动真密度分析仪 用于测试粉末、颗粒、块状
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国仪量子 国产块状固体材料真密度测定仪 G-DenPyc X900系列
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贝士德 BSD-TD2 全自动真密度分析仪 用于真密度测试(粉末、颗粒、块状)
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