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扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪
产品。它采用一种静电分级器来测量颗粒物尺寸,并采用凝聚粒子计数器(CPC)来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有: 快速结果:在60s甚至更短的时间内完成颗粒物粒径分布的扫描; 高分辨的
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扫描电迁移率粒径谱仪-扫描电迁移率粒径谱仪的优缺点
扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合,两种不同型号的DMA可以同时检测5
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美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
静电分级器来测量颗粒物尺寸,并采用凝聚粒子计数器(CPC)来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有: 快速结果:在60s甚至更短的时间内完成颗粒物粒径分布的扫描; 高分辨的数据:扫描是连续的
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SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪
产品介绍SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,实验室型由DMA+CPC5416组成检测系统,19’机架式由
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U-SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪
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U-SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪
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SMPS+E 扫描电迁移率粒径谱仪
产品介绍SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,由DMA+FCE组成。DMA(Differential
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美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)
产品详情TSI 的扫描电迁移率粒径谱仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所( NIST )使用一个 TSI
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扫描电迁移率粒径谱仪
,两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。 扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径
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SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪
0 ~ 10 V,由CPC或DMA控制器提供高压安全保障打开DMA自动切断高压内部传感器温度、压力及两个热限流孔压差传感器 SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility
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