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扫描电迁移率粒径谱仪
,两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。 扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径
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SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪
0 ~ 10 V,由CPC或DMA控制器提供高压安全保障打开DMA自动切断高压内部传感器温度、压力及两个热限流孔压差传感器 SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility
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SMPS+E 扫描电迁移率粒径谱仪
3个可选气象或气体传感器,即插即用电源230VAC 50 ~ 60Hz;或120V 50 ~ 60Hz大小31×25.5×22cm(H×W×D)重量12.2kg SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪
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美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
一种静电分级器来测量颗粒物尺寸,并采用凝聚粒子计数器(CPC)来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有: 快速结果:在60s甚至更短的时间内完成颗粒物粒径分布的扫描; 高分辨的数据:扫描是连续
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美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)
特点与优势高分辨率数据:高达167通道1nm到1,000nm的极宽粒径范围符合ISO 15900:2009标准快速测量:
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德国Grimm EDM665 WRAS气溶胶粒径谱仪
扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)结合起来分析颗粒物粒径的设备,光学粒径谱(OPC)主要用于微米级的颗粒的监测,OPC将监测31个通道,扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)用于纳米颗粒研究,扫描电
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1371型便携式全谱粒径谱仪
结合创新生产了新型的Mini-WRAS (Mini Wide Range Aerosol Spectrometer)粒径谱仪。这两种技术分别是:(a) 光学散射粒径分析技术;(b) 递进式电迁移率粒径
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665 户外全谱粒径谱仪
—32微米 31个粒径通道检测浓度范围: 1—2000个/cm3采样流量: 1.2 L/min重复性: 3% zei大量程 SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪粒径范围:5纳米—350
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美国TSI 3330型光学颗粒物粒径谱仪
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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用扫描迁移率粒度仪
/ 2100X / 2200X Palas® 通用扫描迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X / 2100X / 2200X 型号)可以确定 8 至 1200 nm 的粒径
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