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枝晶评估 Leica Dendrite Expert
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理学 Ultima IV 粉晶X射线衍射仪
等。仪器用途:可用于测定各种粉末、块状、薄膜等样品的物相定性与定量分析,计算结晶化度、晶粒大小等。仪器简介: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线
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X射线衍射XRDX射线衍射仪 岛津 适用于测定晶型
岛津X射线衍射XRDXRD-7000可以用在原料药/中间体行业领域,用来检测药品片剂、牙齿、球型巧克力,可完成测定晶型项目。符合多项行业标准。 易操作、多功能、多用途的X射线衍射仪
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非晶硅平板探测器
非晶硅X 射线探测器非晶硅(硒)X 射线平板探测器广泛用于高能辐射的应用中。万睿视公司有超过 20 年的经验 , 为全球超过 20000 客户提供标准和定制探测器,广泛应用于医学、兽医
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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Agilent 全能型分光光度计 (UMS)紫外安捷伦 可检测涂层晶圆
安捷伦紫外Cary 7000用于测定涂层晶圆,符合行业标准。适用反射率,透射率 项目。 在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一方法来表征光学带隙能量相近的材料。Cary
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A36双晶64晶片线性探头
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半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统主要功能:•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。•拉曼光谱的强度、频移、线宽
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硅晶圆检测仪SIT-200
SIT-200 硅晶圆检测仪是Alnair Labs 公司采用高速扫频激光器,利用干涉计量的方法设计制造的用于硅晶圆厚度检测的干涉仪。与常规测厚采用宽带光源不同,可调谐激光器具备很高的功率谱
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