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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 航空航天:镍高温合金、复合材料、涂层和扩散层的深度剖析
基质信号对相邻分析物峰的贡献最小纳米分辨率的深度剖析深度剖析是涂层元素分析和跨层元素扩散评估的重要工具。深度分辨率从纳米到数百微米测定从亚ppm到100%的所有元素的浓度,无需校准灵活的阳极直径,用于
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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪 航空航天:镍高温合金、复合材料、涂层和扩散层的深度剖析
Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯
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位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪,单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析,低能团簇模式适用于常规
,样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪,单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析,低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析,20 kV最大团簇能量可以保证无机
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 医疗/制药/食品:不锈钢、合金
物峰的贡献最小纳米分辨率的深度剖析深度剖析是涂层元素分析和跨层元素扩散评估的重要工具。深度分辨率从纳米到数百微米测定从亚ppm到100%的所有元素的浓度,无需校准灵活的阳极直径,用于高级深度剖析可以
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 微电子:铜、氧化铝粉、溅射靶材
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 可再生能源:硅块、硅片、太阳能电池
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS
基质信号对相邻分析物峰的贡献最小纳米分辨率的深度剖析深度剖析是涂层元素分析和跨层元素扩散评估的重要工具。深度分辨率从纳米到数百微米测定从亚ppm到100%的所有元素的浓度,无需校准灵活的阳极直径,用于
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/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+岛津 可检测膜材料
抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪,单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析,低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析,20 kV最大团簇能量可以保证无机材料的有效
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/Kratos X射线光电子能谱仪岛津AXIS SUPRA+ 适用于其他
测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪,单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析,低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析,20 kV最大团簇能量可以保证无机材料的有效分析。 上市时间
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AXIS SUPRA+/Kratos X射线光电子能谱仪岛津 不同氩离子刻蚀模式对膜材料深度分析中元素化学态的影响
与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪,单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析,低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析,20 kV最大团簇能量可以保证无机材料的有效分析。 上市时间:2019年
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