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岛津AXIS Supra具备全自动传样系统,样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪,单氩离子模式用于金属类膜材料的
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+ 应用
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方法学验证中各项指标的深度剖析
来源:英语你我他 资料
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不同氩离子刻蚀模式对膜材料深度分析中元素化学态的影响
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不同氩离子刻蚀模式对膜材料深度分析中元素化学态的影响
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XPS深度分析—LiPON固态电解质
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Plasma Profiling TOFMS - 英文样本
等离子体分析飞行时间质谱仪结合了辉光放电等离子体的溅射速度和时间飞行质谱的快速以及高灵敏度,实现了高分辨率和高灵敏度条件下固体材料的快速化学深度剖析。
来源:HORIBA科学仪器事业部 资料
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Features and Benefits of Pulsed RF GD OES for fast control of LED manufacturing process
来源:HORIBA科学仪器事业部 应用
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PP-TOFMS Depth Profiling of ZnO Thin layers co-doped with Rare Earths for Photonic Materials
来源:HORIBA科学仪器事业部 应用
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Features and Benefits of Pulsed RF GD OES for the development of PV cells
来源:HORIBA科学仪器事业部 应用
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GD-Profiler 系列射频辉光放电光谱仪 - 中文样本
来源:HORIBA科学仪器事业部 相关产品:HORIBA GD Profiler 2射频辉光放电光谱仪 资料
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