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安东帕Nova系列比表面和孔径分析仪 测量硅基类材料的孔径分布
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全自动比表面和孔隙分析仪比表面BELSORP MAX G 可检测微孔高硅分子筛
麦奇克拜尔全自动比表面和孔隙分析仪BELSORP MAX G可用于测定无孔石英砂,微孔高硅分子筛,多孔二氧化硅,适用于分析多种材料比表面积和孔容的方法项目。并且参考多项行业标准https
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精微高博比表面白炭黑比表面快速测试仪 可检测硅碳负极材料
精微高博白炭黑比表面快速测试仪JW-DX用于测定硅碳负极材料,符合行业标准。适用比表面积测试项目。 白炭黑比表面快速测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构
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精微高博比表面动态法陶粒比表面分析仪 可检测硅碳负极材料
精微高博动态法陶粒比表面分析仪JW-DX可用于测定硅碳负极材料,适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于电池/锂电池行业领域。 性能参数:仪器型号: JW-DX bet原理方法
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赛默飞iCAP™ TQ ICP-MS等离子体质谱仪 测定硅晶片表面上的超痕量元素
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比表面精微高博储能材料比表面快速测试仪 可检测硅碳负极材料
精微高博比表面JW-DX可用于测定硅碳负极材料,适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于电池/锂电池行业领域。 重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品5min
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梅特勒托利多2800Si 硅表 硅分析仪
梅特勒托利多 Thornton 2800Si 硅分析仪是一种可靠的在线仪器,专门用于纯水处理与电厂循环化学。该分析仪为水的纯度提供保障,从而优化纯水生产的离子交换,zei大限度减少硅在涡轮机内的沉积
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麦奇克拜尔比表面BELSORP MR1 可检测微孔高硅分子筛
麦奇克拜尔动态法快速比表面分析BELSORP MR1可以用在高分子材料行业领域,用来检测无孔石英砂,微孔高硅分子筛,多孔二氧化硅,可完成分析多种材料比表面积和孔容的方法项目。符合多项行业标准
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流动色谱法橡胶比表面测试仪比表面精微高博 可检测硅碳负极材料
精微高博比表面JW-DX系列参考多项行业标准。完成硅碳负极材料的检测。可以用在电池/锂电池行业领域中的比表面积测试项目。 性能参数:仪器型号: JW-DX bet-原理方法: 流动色谱法,低温氮
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精微高博JW-DX比表面 负极材料|比表面积测试在硅碳负极材料中的应用
精微高博比表面JW-DX适用于比表面积测试项目,参考多项行业标准。可以检测硅碳负极材料等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 分压范围: P/P0为0.3或0.4;压力控制: 常压下进行吸脱附实验
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