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马尔文帕纳科 2830 ZT 晶圆分析仪
2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计,该仪器可为多种晶片(厚达 300
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枝晶评估 Leica Dendrite Expert
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理学 Ultima IV 粉晶X射线衍射仪
Ultima IV组合型是日本理学公司生产的Ultima系列中第四代最新型组合多功能高分辨的粉晶X射线衍射仪。利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析
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X射线衍射XRDX射线衍射仪 岛津 适用于测定晶型
岛津X射线衍射XRDXRD-7000可以用在原料药/中间体行业领域,用来检测药品片剂、牙齿、球型巧克力,可完成测定晶型项目。符合多项行业标准。 易操作、多功能、多用途的X射线衍射仪
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赛默飞EASY-Spray 纳喷技术 用于纳流色谱领域
赛默飞纳喷技术EASY-Spray简介:Thermo ScientificTM EASY-Spray色谱柱是用于纳流色谱领域的,根据高标准精细加工的高科技组件。获得纳流LCMS的佳性能简单:即装即喷
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赛默飞EASY-Spray 纳喷技术 用于纳流色谱领域的
Thermo ScientificTM EASY-Spray色谱柱是用于纳流色谱领域的,根据zei高标准精细加工的高科技组件。获得纳流LCMS的zei佳性能前所未有的简单:即装即喷
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非晶硅平板探测器
非晶硅X 射线探测器非晶硅(硒)X 射线平板探测器广泛用于高能辐射的应用中。万睿视公司有超过 20 年的经验 , 为全球超过 20000 客户提供标准和定制探测器,广泛应用于医学、兽医
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赛默飞Ultimate 3000 RSLCnano 纳升液相色谱系统 纳流应用
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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