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安东帕UNHT³ HTV高温高真空超纳米压痕仪 测量薄膜到块状材料
高温超纳米压痕测试仪 (UNHT3 HTV)全球真正意义的商品化的高温高真空超纳米压痕仪,主要测量小载荷下纳米尺度机械性能的测试系统,温度在 800 °C 以下的薄膜和涂层的硬度和弹性模量。专利
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Zeta电位DelsaNano C薄膜分布分析仪 应用于纳米材料
点击查看下载Zeta电位DelsaNano C薄膜分布分析仪 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C/Solid
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芯硅谷 PVC薄膜
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薄膜,片材在线测厚仪
仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
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纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω
日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω是唯一使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比,样品制备和测量极为简单。
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安东帕纳米压痕仪NHT³ NHT³纳米压痕仪纳米压痕
主要特点:- 纳米压痕测试仪最简单易用- 软件直观易用- 通过简单的参数(如最大载荷)、统计数据分析和保存的测试方案模板轻松开始测试- 适用于表面的不同放大倍数的多物镜视频显微镜- 纳米压痕测试仪最
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NHT³纳米压痕仪 安东帕纳米压痕仪NHT³纳米压痕
主要特点:- 简单易用的纳米压痕测试仪- 直观易用的软件- 测试方案模板保存- 适用于不同放大倍数的多物镜视频显微镜- 坚固耐用的设计- 快速点阵压痕模式- ISO14577标准要求- 每小时最多
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纳米压痕 安东帕纳米划痕仪NST³ NST³纳米划痕仪
闭环主动力反馈系统可进行精确的纳米划痕测试7. 高质量的光学成像系统,包括“跟踪聚焦”功能8. 可进行多次后扫描模式评估弹性性能9. 技术指标:载荷分辨率0.01μN,最大载荷1000mN;摩擦力
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
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