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非晶硅平板探测器
非晶硅X 射线探测器非晶硅(硒)X 射线平板探测器广泛用于高能辐射的应用中。万睿视公司有超过 20 年的经验 , 为全球超过 20000 客户提供标准和定制探测器,广泛应用于医学、兽医
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DSC/DTA瑞士闪速差示扫描量热仪梅特勒托利多 可检测非晶金属材料
梅特勒托利多瑞士闪速差示扫描量热仪Flash DSC 2+用于测定非晶金属材料,符合行业标准暂无。适用热分析项目。 闪速DSC。这是一款创新性的应用仪器,可以更好的帮助大家更便利地研究非晶
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UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 表征非晶碳薄膜的厚度和光学常数
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定非晶碳薄膜,适用于厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他生命科学行业领域。 技术参数
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Gatan MICROTEST 2000E系列原位动态拉伸试验台 其他(非晶)材料研究
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梅特勒托利多Flash DSC 2+瑞士闪速差示扫描量热仪 闪速DSC在非晶金属材料中的应用
梅特勒托利多瑞士闪速差示扫描量热仪Flash DSC 2+适用于热分析项目,参考多项行业标准暂无。可以检测非晶金属材料等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 闪速DSC。这是一款创新性的应用
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 可检测非晶碳薄膜
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在其他生命科学行业领域,用来检测非晶碳薄膜,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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DXR3 Smart赛默飞拉曼光谱仪 拉曼光谱-非均相固体的快速表征工具
点击查看下载DXR3 Smart赛默飞拉曼光谱仪 拉曼光谱-非均相固体的快速表征工具相关资料,进一步了解产品。 支持四种激发波长(455 nm、532 nm、633 nm 和 785 nm),可在
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枝晶评估 Leica Dendrite Expert
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芯片半导体晶圆非接触式光学3D表面轮廓仪
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Agilent 全能型分光光度计 (UMS)安捷伦紫外 使用配备固体自动进样器的 Agilent Cary 7000全能型分光光度计 (UMS) 进行涂层晶圆分析
安捷伦紫外Cary 7000可以用在高分子材料行业领域,用来检测涂层晶圆,可完成反射率,透射率 项目。符合多项行业标准。 在寻找昂贵基底(如氧化铟锡 (ITO))的合适替代品时,可以使用这一
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