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上海伯东闪存温度测试专用高低温测试机
(Flash Memory),是非挥发性内存的一种,不需电力来维持数据的储存,可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种,前者用于储存程序代码,后者用于储存数据。 上海伯东
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日立冷场发射扫描电镜SU8600
提供:日本工业技术综合研究所 上村 佳大 先生高衬度的低加速电压背散射图像3D NAND截面观察;在低加速电压条件下,背散射电子信号能够明显的显示出氧化硅层和氮化硅层的衬度差别。3D NAND截面观察
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日立双束(三束)聚焦离子束系统NX2000
nm的超薄样品FIB加工时的实时SEM观察*2例样品:NAND闪存加速电压:1 kVFOV:0.6 µm加工方向控制技术(Micro-sampling®*3系统(选配)+高精度/高速样品台*)对于
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环境噪声自动监测
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赛默飞Metrios 6扫描透射电子显微镜((S)TEM
的 ROI 中。智能倾斜可自动将 3D NAND 平面样品对准光束,确保精确的计量分析。工具准备保持关键的工具对齐,以获得高质量的数据和强大的 TEM 自动化。使用Smart Stage自动上样使用
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QTLog田间小气候象站
QTLog数据采集器技术参数CPUARM Cortex-A7 运行频率:528MHz存储空间256M NAND 数据存储空间(含系统)内存空间256M DDR3 频率:400MHz时钟精度±2分钟
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赛谱司土壤重金属光谱仪x-300
据处理ARM Cortex-A9 双核处理器/ 1.2GHz; 内存,1GB DDR2,1GB NAND;电源可充电的锂离子电池充电器带电量计量校正功能的充电器显示液晶触摸屏,可使用手指进行控制操作
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赛谱司 矿石分析仪X-200
双核处理器/ 1.2GHz; 内存,1GB DDR2,1GB NAND ;电源可充电的锂离子电池可充电的锂离子电池充电器带电量计量校正功能的充电器带电量计量校正功能的充电器显示液晶触摸屏,可使
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高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
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北京中瑞祥蜂蜜检测仪 型号:ZRX-29121
,用户可以实时设置试样的压力,或修改仪器时间,自检系统的各个部分等。仪器内置一块64M的NAND FLAH,可以对试验结果进行存储,采用嵌入式系统设计,用户可以查看历史数据,利用仪器上打印机将结果打印
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