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X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试
服务详情X-射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素,可以提供有关固体表面和界面的化学信息(元素种类、相对含量及价态信息)。此外,通过角分辨法及Ar离子剥离
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ESCALAB 250Xi X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针
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SPECS NAP-XPS近常压X射线光电子能谱仪
近常压X射线光电子能谱仪(NAP-XPS)是一种反应条件下的原位表面分析技术,可以在较高温度下、一定压力(0.3 mbar左右)气体环境中对材料的表面进行研究。它的应用使得在近常压下对固-气界面进行
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赛默飞K-Alpha+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统
。定量化的XPS成像在每个像素都包括一个能谱,可进行峰拟合以揭示化学态分布。 K-Alpha配置低能高通量的离子源用于深度剖析,低能溅射结合方位角旋转可产生具有优异深度分辨率的剖析图。
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ORTEC γ能谱仪
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X(γ)射线能谱仪
技术参数:1、系统的能量分辨率:<65%(对239Pu) 2、系统的能量线性:≤±1%(60Kev~2.0Mev) 3、系统稳定性:≤±1%(8h) BH1324B型微机多道X谱仪
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岛津AXIS Supra X射线光电子能谱仪
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ELEGRE X射线能谱仪
型号: ELEGREELEGRE X射线能量色散谱仪(EDS)是北京意力博通技术发展有限公司开发的通用型产品,可以配接多种型号的Si(Li)探测器,适用于SEM和TEM快速元素识别及
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便携式能谱仪
10000个数据谱,具有计算机连线及配套数据通讯软件信息显示:320×240高亮,32000种色彩,3.5″液晶显示屏RIIDEye型便携式能谱仪,具有核素识别、能谱分析、剂量测量、剂量率计算、总剂量
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俄歇电子能谱 AES
服务详情俄歇电子能谱(Auger electron spectroscopy,简称AES),是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发
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