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硅片表面形貌测量 AFM
价格电议英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片
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硅片表面形貌测量VIT系列
硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth, bottom CD
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Alicona InfiniteFocusSL表面形貌测量仪
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马尔形貌轮廓表面粗糙度测量仪
接触速度(Z 方向)0.1 至 1 mm/s测杆长度175 mm, 350 mm测量速度(文本)0.2 mm/s 至 4 mm/s针尖半径25 μm扫描长度末尾(X 方向)120 mm分辨率Z
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SL
控制的光学三维表面形貌测量仪。InfiniteFocus SL除可以测量形貌及微观结构的表面外,还可以测量部件的粗糙度。完美的机身框架和智能的光源使InfiniteFocus SL的测量更快速,更
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原子力显微镜|英国 NanoMagnetics|硅片表面形貌测量
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大范围扫描|三维表面形貌测量仪
技术参数 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 测量时间:5~10秒 测量原理:非接触、共聚焦 X/Y方向,平台移动范围:50mmX50mm,马达驱动,分辨率:0.3
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus G5
自动变焦三维表面测量仪InfiniteFocus G5的主要技术参数:位移范围(X轴、Y轴、Z轴):100mm×100mm×100mm样品表面结构:表面形貌Ra>9nm,Lc=2μm,取决于
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus G4
自动变焦三维表面测量仪InfiniteFocus G4的技术参数:位移范围(X、Y、Z轴):100×100×100mm样品表面结构:表面形貌Ra>10-15nm,Lc=2μmzei大样品高度
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微观组合测试仪MCT
600 mm/min 微观组合测试仪MCT 微观组合测试仪集成了安东帕微观压痕测试仪和微观划痕测试仪的所有功能。只需一种 测量仪即可进行仪器化压痕测量,以及测试涂层附着力和表面抗刮擦性。
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