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光学法接触角
变化 光学法接触角测量仪可用于测试动态和静态接触角值、固体表面自由能及其分布(色散力、极性力、氢键力)、液-气和液-液界面张力值、液体界面粘弹指数(振荡滴)等. 光学法接触角测量仪是影像法界
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豆皮腐竹水分含量测定仪技术参数
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XRD单晶X射线衍射仪
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EIE 色谱模拟馏程仪
、色散力、氢键)。化学键(离子键、共价键、金属键)色谱模拟蒸馏原理:用具有一定分离度的非极性色谱柱,分析一组正构烷烃混合物,得到保留时间与沸点的关系曲线。在相同条件下,测定石油样品,获得对应百分收率的
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德国STOE X射线单晶衍射仪STADIVARI
排列状况,可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。 德国STOE公司是一家专业生产晶体X射线衍射仪的公司,成立于1887年,生产
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SDS-PAGE蛋白质纯度分析
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研究型接触角测量仪DSA30
自动测定粘附功,基线调整自动、手动、水平、曲面等方法。表面能计算:提供九种计算方程,可以给出浸润性分析图谱,可计算固体表面的极性力、色散力和氢键组成。表面张力测量:悬滴法(杨氏方程)测量液体表面/界面
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KF100 力学法表面张力仪
, Fowkes,Wu, Owens-Wendt- Rabel, van Oss等多种方法测量总表面能,极性组成,路易斯酸碱组成,氢键组成等,并可测量,单面涂层的表面能软件功能:SW31表/界面张力
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HASUC 基片预处理系统真空烤箱 HMDS-6210
设定的保持时间后,再次开始抽真空。充入氮气,完成整个作业过程。HMDS与硅片反应机理如图:首先加热到100℃-200℃,去除硅片表面的水分,然后HMDS与表面的OH一反应,在硅片表而生成硅醚,消除氢键
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HASUC 真空干燥箱充HMDS气体
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