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德国应用光谱TranSpec白光干涉膜厚仪
应用领域用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。 TranSpec光谱仪结合创新的光电技术与强大的模拟/数字电子技术和最新的计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用
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应用光谱TranSpec Mirco白光干涉膜厚仪
。TranSpec Micro薄膜厚度测量仪和我们TranSpec和TranSpec Lite仪器一样采用白光干涉原理。为了测量非常小的点,TranSpec Micro使用装有实时显示相机的光纤耦合
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德国应用光谱TranSpec Lite白光干涉膜厚仪
技术特点光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度,在整个厚度
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白光干涉仪
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德国应用光谱Plasma Emission Messurement System白光干涉膜厚仪
等离子体发射测量在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程,如PVD(物理气象沉积)是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查,有时也使用质
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WinWInTec白光干涉形貌仪
应用领域:Wafer晶片,微流控系统,金刚石工具,汽车气缸,光学镜片,金属表面,机身外观(汽车),粗糙度标准片。详情见产品手册。technology measurement principle
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白光干涉测厚仪Delta-NIR
干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用领域
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Rtec-白光干涉仪
l标准电动平台150x150mm(可选210x310mm)l标准转塔,电动转塔可选l垂直范围可达100mml倾斜阶段6度lXY平台分辨率0.1uml自动拼接楷模lSigma头 - 仅限白光干涉
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solarius Polaris白光干涉仪
环境。Polaris专注于快速准确测量。Polaris白光干涉仪支持多种3D传感器,适用于各种类型的材料表面测量,包括高反光和倾斜的材料表面。强大的软件既能满足产线灵活的自动化重复检测需求,又能针对
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测厚计 高精度橡胶测厚计
测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数:测程:0-10mm分度值:0.01mm工作台升降最大行程:40mm工作台外径: 70mm测头直径:6mm块规规格(厚度
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