-
连续正弦干涉图,而这一系列不同强度的正弦干涉图,就是一系列不同波数的光谱。对不对?(傅里叶变换:任何连续周期信号可以由一组适当的正弦曲线组合而成)
2.光源里面为什么要有激光发生器?有何用途?
3.好像还有一个白光源,用来校准??
4.
2015年04月14日发布人:taoshengyijiu
-
请问各位,知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗,测C-F曲线,转化为介电常数,测电容,再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单,用探针台接上你的样品上下电极,再将探针台连在阻抗分析仪上,扫频即可
计算的前提是你得知道电极
2015年08月26日发布人:yazi
-
连续正弦干涉图,而这一系列不同强度的正弦干涉图,就是一系列不同波数的光谱。对不对?(傅里叶变换:任何连续周期信号可以由一组适当的正弦曲线组合而成)
2.光源里面为什么要有激光发生器?有何用途?
3.好像还有一个白光源,用来校准??
4.
2015年02月28日发布人:xingyi08
-
请问各位,知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗,测C-F曲线,转化为介电常数,测电容,再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单,用探针台接上你的样品上下电极,再将探针台连在阻抗分析仪上,扫频即可
计算的前提是你得知道电极
2015年08月14日发布人:女儿情
-
最近在学习量子力学,可是在看到单电子干涉的时候有些不明白,为什么一个电子通过双狭缝的时候会发生干涉?我看到的解释是以几率的方式通过两个狭缝,所以两个狭缝都有可能通过,于是就会产生干涉。可是感觉很不合理,电子最终是一个实物粒子,在一个电子
2015年12月19日发布人:小熊妮妮
-
[size=2][font=黑体]《中国药品检验标准操作规范》2010年版:
压片法制成的片厚在0.5mm左右时,常可在光谱上观察到干涉条纹,对供试品光谱产生干扰。一般可将片厚调节至0.5mm以下即可减弱或避免。也可用金相砂纸将片稍微打
2015年04月14日发布人:@花开花落@
-
不同的测厚设备有不同的原理, X荧光测膜厚的原理是什么呢? 能简单说说吗?,XRF测量金属薄膜厚度的原理是利用X射线的能量激发样品中的金属元素使它产生特征X射线荧光,通过检测器检测到荧光的强度来计算金属镀层的厚度。具有非破坏,快速简便的
2014年08月29日发布人:ass
-
距离有关吧,不知是否准确,看一下说明书, 里面应该有个线形图, 可根据时间和电流来决定膜厚,日立工程师胡扯,大该在3-4nm,电流越大,溅射下来的金颗粒越大,在同样的时间下就越厚。,时间长厚;
电流大,PT的颗粒大;
一般超过5nm你怎么分析啊?,和你的电压电流以及时
2009年10月29日发布人:风大
-
请教 多厚的铜能够屏蔽住x射线 假设管电压为60Kv 不知道我说的明白不 意思就是多厚的铜能够挡住X射线 使X射线无法穿透! 很急!多谢!,具体多厚还真注意过,但从仪器内部的铜板铅板来看,应该有20-30公分,管电压在60kV的话,穿透
2015年11月26日发布人:熊猫
-
不同的测厚设备有不同的原理, X荧光测膜厚的原理是什么呢? 能简单说说吗?,XRF测量金属薄膜厚度的原理是利用X射线的能量激发样品中的金属元素使它产生特征X射线荧光,通过检测器检测到荧光的强度来计算金属镀层的厚度。具有非破坏,快速简便的
2015年02月01日发布人:vbnm