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硅片表面形貌测量 AFM
价格电议英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片
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硅片表面形貌测量VIT系列
硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth, bottom CD
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三维表面形貌仪
成为世界上zei先进的光学干涉测量设备,可满足MEMS、金属研究、材料科学、半导体、医用器械等众多领域科研和生产工作中对高精度自动化表面测量的需要。特点: 能够同时测量形貌和粗糙度 能够测量小半
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三维表面形貌仪
三维表面形貌仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s
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Alicona InfiniteFocusSL表面形貌测量仪
(Sa):50nm InfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产,操作原理是世界领先的全自动变焦(Focus-Variation)技术,该技术是光学系统的小
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三维表面形貌仪 SURFIEW 2000
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三维表面形貌仪 SURFIEW 4000
变化的干涉纹样调整操作台真空操作台,选择操作台,Aligner操作台 三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。Premium
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三维表面形貌仪 SURFIEW500
变化的干涉纹样调整操作台真空操作台,选择操作台,Aligner操作台 三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量
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TRACEiT® 便携式表面三维形貌仪
光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头,专用便携式数据采集系统,ipod操作控制系统。zei大测量范围可达标准A4纸,精确度可达100um。 同时,专用软件还可用来进一步评估特定区域内材料表面的性能
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马尔形貌轮廓表面粗糙度测量仪
方向,相对探针针头:0.38 μm(350 mm 测杆)/ 0.19 μm(175 mm 测杆)在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 μm扫描长度开始(X 方向)0.2 mm取样角在平滑表面
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