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求助啊,现在需要对镀层进行表面形貌、截面形貌及成分分析,对试样有啥要求吗,不知道镀层表面还需要什么处理,需要抛光吗,自己用砂纸磨,保持堵车呢过表面干净,平整,可不可以直接拿去检测啊?急啊。,进行表面形貌观察就不需要什么处理了;进行截面形貌
2016年04月29日发布人:xiaoxiaoai
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殊清洗,硅片表面总是会有一层氧化物的。,洗不洗根据你需要吧,有些样品可能洗后形貌改变什么的,SEM的话没有要求样品要洗过什么的。
黑线看起来好像是样品边缘什么的,另外SEM附带的EDX能谱基本上都不是很准的,不要太迷信,或者多打几个点的能谱,因为样品可能会不均匀,做SEM观察样品一般不需要清洗,直接看表面形貌,
2010年11月07日发布人:zwybb
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我的样品是个2-3毫米厚的片子,想观察其表面形貌,用显微镜照的时候低倍数还能看到,不过不清楚,用高倍又因为透光不好而看不到表面,没用过扫描电镜,不知道可不可以,还有不知道有没有别的方法去表征呢,用AFM试试看啦,可以在硅片上或者云母片上涂
2016年01月26日发布人:女儿情
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AFM图分析:最近用AFM测了薄膜的表面形貌,但是那软件不太会用,比如薄膜上有杂质产生了阴影,平滑什么的不怎么会,还有就是那个剖面图中字母代表什么意思(在图中圈起来的)。我们用的软件是SPI3800I。,白的那一块要么是样品太高了要么是
2015年12月31日发布人:xgy412
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扫描电镜适合测定什么样的样品啊?测毛细管成吗?:):),看的是样品表面形态,大小只要能放到机器里面就行。,样品需是导电的才行,绝缘样品需要经过处理才能观测到表面形貌。,看的是样品表面形态,不导电的需要喷金处理,然后观测!!!,毛细管需要喷
2015年10月31日发布人:大大
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是材料表面或者是断面的组织形态。透射电镜不可以看表面形貌,而扫描电镜所观察的断面或者表面的组织形态可以间接表征材料的内部某个剖面的的组织形态。TEM分辨率高,可以观察原子晶格像,而扫描电镜分辨率低,最多只能表征由几十或者几百个原子形成的纳米相--可以叫做晶粒或者功
2015年01月31日发布人:坚持2011
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请问各位高手在材料分析中,透射电镜和扫描电镜有什么区别?,TEM是透射电子的成像,SEM是背散射电子或2次电子像,原料都不一样。,区别还是比较大的,看你的需求了,扫描电镜主要是看样品的表面形貌,而且放大的倍数有限,有的号称分辨率达1nm
2015年12月16日发布人:hcy517
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冷冻电子显微镜与扫描电镜的区别在何处?,冷冻电镜是透射电镜,看物体内的具体结构;而扫描电镜是利用探针扫描,对大分子不能扫到分子内部,而是表面形貌,不可能是分子内部的结构。如果是研究原子水平,没有问题。但一旦涉及到大分子,就要出现问题
2015年12月02日发布人:妮子@
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没做过此材料,个人观点,拙见。,用背散电子试试,你的样品上的锡是镀上去的膜吗?
我没有虽然没有接触过锡膜,但我们是做无机涂层膜的,也经常要看膜的显微结构来研究其生长情况。
有两种情况,表面物质的显微形貌如果是晶须状的话,直接用SEM
2009年11月13日发布人:物联网
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美等,国内主流的是日本电子和FEI,各有所长吧,日本电子比较注重光路,而FEI则比较注重电子器件的整合与自动化(可能说的不是很正确,欢迎讨论),至于价格吧,这个价格不好说,波动性比较大,与众多因素有关,如谈判程度、汇率等等,您好,我公司想买的这套设备用于观察材料的晶体结构,这需要TEM的功能,并且能够像SEM那样观察材料的整体表面形貌。如果只买
2015年02月04日发布人:小猫