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涂层光学晶片的自动分光光度空间分析
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NexION 300S ICP-MS 测定硅晶片中的杂质 Application Note (010281_01_CN)
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晶片抛光液配方
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NexION 300S ICP-MS测定硅晶片中的杂质
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X射线应用举例
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高分辩衍射仪XPert Pro MRD
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蛋白质在硅烷膜表面吸附特性的压电传感监测
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Park XE15 集多功能于一体的原子力显微镜
Park XE15具备多个特殊功能,是共享实验室处理各类样品、研究员进行多变量实验、失效分析时研究晶片等的不二选择。合理的价格搭配强健的性能设置,使其成为业内性价比最高的大型样品原子力显微镜。
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Park XE15集多功能于一体的原子力显微镜
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SI-F80R系列 分光干涉式晶片厚度计
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