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式中,R—衍射斑与透射斑间距;
d—参加衍射晶体的晶面间距;
λ—入射电子束波长;
L—样品到底版的距离。
通常L是定值,而λ只取决于加速电压E的大小,因而在不改变E的
2010年06月23日发布人:xuzj1979
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厚度到底是多少?而扫描电镜到底能看到样品多深?(指正常加速电压15~20KV),图为入射电子束轰击样品表面产生的各种信号以及深度.,这么说,二次电子的发射深度为样品表面几纳米到几十纳米的区域是正确的,那么看SEM时镀金厚度正常是多厚呢
2015年06月03日发布人:p1900
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导电性差的材料来说,则需要预先在分析表面上蒸镀一层厚度约10~20 nm的导电层。 否则,在电子束照射到该样品上时,会形成电子堆积,阻挡入射电子束进入和样品内电子射出样品表面。导电层一般是二次电子发射系数比较高的金、银、碳和铝等真空蒸镀
2015年01月21日发布人:qinqinai
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厚度到底是多少?而扫描电镜到底能看到样品多深?(指正常加速电压15~20KV),图为入射电子束轰击样品表面产生的各种信号以及深度.
[attach]2396[/attach],这么说,二次电子的发射深度为样品表面几纳米到几十纳米的区域
2009年12月08日发布人:xuzj1979
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如题,SEM制样时 通常要用到导电胶和喷金 这起到什么作用? 谢谢大家,导出电荷,避免样品表面的charge,,但是也会影响原来的形貌,喷金可以根据时间控制厚度。如果样品特别小可以选择喷碳,用扫描电镜观察时,当入射电子束打到样品上,会在
2016年04月03日发布人:妮子@
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导电性差的材料来说,则需要预先在分析表面上蒸镀一层厚度约10~20 nm的导电层。 否则,在电子束照射到该样品上时,会形成电子堆积,阻挡入射电子束进入和样品内电子射出样品表面。导电层一般是二次电子发射系数比较高的金、银、碳和铝等真空蒸镀
2015年10月09日发布人:青青草
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束条件下获得的才行吧?,是的,是在双束条件下,谢谢纠正补充,能否给出这两种具体的操作方法,谢谢,一般暗场像,直接用合适的物镜光阑去套衍射斑。操作容易,但是离轴像散和色差的影响大,像质量差。
双束条件下的中心暗场像,需要倾转入射电子束
2016年01月03日发布人:jom
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由电荷引起的,楼上的说是荷电的原因可能是对的,但是我就是想知道清楚的产生这个问题的原理.比如说电荷积累是影响了入射电子束还是影响了2次电子等等,具体怎么影响.谢谢!,我的也是4800,如果是电荷累积或者电压过高样品破坏,应该是方形的黑斑吧(至少我的是这样)。我也想知道这似乎怎么回事,请高手解答,您
2009年11月13日发布人:666
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断裂,买了好几年了,也不知道发挥作用如何。
如果对理论感兴趣,可以咨询北大力学系,他们做SEM微观断裂,微应力应变测试系统,放大倍率:阴极射管电子束在荧光屏上的扫描振幅与入射电子束在样品表面扫描振幅的比值。,分辨率:分为图像分辨率和能谱或
2015年08月24日发布人:xiaoxiaojinglin
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是, 但是由于L线的产率少, 淹没在连续谱背景中看不出来, 当你逐步提高入射电子束电压时首先出现的特征谱还是K线. K线的产率高得多.
2、如果用金属去防护X射线,那么金属是不是还会激发出二次荧光X射线呢?
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那要看所防护的X射线能量是否正好高于该金属的某系吸收限.,谢谢,讲的很详细,就是第二个问题,是不是也是正
2015年06月06日发布人:teddy