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。目前该分析方法在日常表面分析工作中的份额约50%,是一种主要的表面分析工具。 X射线能谱仪工作的基本原理 X射线能谱仪为扫描电镜附件,其原理为电子枪发射的高能电子由电子光学系统中的两级电磁透镜聚焦成很细的电子束来激发样品室中的样品
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XPS 谱图中有哪些重要的谱线结构?具体是什么?XPS 谱图一般包括光电子谱线,卫星峰(伴峰),俄歇电子谱线,自旋- 轨道分裂(SOS)等1)光电子谱线:每一种元素都有自己特征的光电子线,它是元素定性分析的主要依据。谱图中强度最大、峰宽
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与俄歇电子的离子能之间的能差。这些能级的大小取决于原子类型和原子所处的化学环境。 俄歇电子谱,是用X射线或高能电子束来产生俄歇电子,测量其强度和能量的关系而得到的谱线。其结果可以用来识别原子及其原子周围的环境。 俄歇复合是半导体中一
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俄歇电子能谱俄歇电子数目N(E)随其能量E的分布曲线称为俄歇电子能谱。一般情况下,俄歇电子能谱是迭加在缓慢变化的,非弹性散射电子形成的背底上。俄歇电子峰有很高的背底,有的峰还不明显,不易探测和分辩。为此通常采用电子能量分布的一次微分谱,即
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能谱仪结构及工作原理能谱仪,结构,工作原理,特征X射线,X射线探测器X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法.它是分析电子显微方法中最基本,最可
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电离的,因此,该电离能相当于原子序数为Z和Z
1之间的原子的电离能。其中Δ=1/2-1/3。根据式(10.6)和各元素的电子电离能,可以计算出各俄歇电子的能量,制成谱图手册。因此,只要测定出俄歇电子的能量,对照现有的俄歇电子能量图表
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当一个具有足够能量的入射电子使原子内层电离时,该空穴立即就被另一电子通过L1→K跃迁所填充。这个跃迁多余的能量EK-EL1如使L2能级上的电子产生跃迁,这个电子就从该原子发射出去称为俄歇电子。这个俄歇电子的能量约等于EK-EL1-EL2
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电子电离后,芯能级出现空位,弛豫过程中若使另一电子激发成为自由电子,该电子即为俄歇电子。俄歇电子谱线总是伴随着XPS,但具有比XPS更宽更复杂的结构,多以谱线群的方式出现。特征:其动能与入射光hν无关。
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俄歇能谱仪包括电子光学系统、电子能量分析器、样品安放系统、离子枪、超高真空系统。以下分别进行介绍。电子光学系统电子光学系统主要由电子激发源(热阴极电子枪)、电子束聚焦(电磁透镜)和偏转系统(偏转线圈)组成。电子光学系统的主要指标是入射电子
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海南大学周阳副教授 海南大学周阳副教授发表主题为“俄歇电子能谱(Auger
electron
spectroscopy)原理介绍及其在元素成像中的应用”的精彩报告。俄歇电子能谱(AES)是一种表面科学和材料科学的分析技术,可用