-
CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
-
吉时利参数测试系统
-
TMC STACIS III主动隔振系统
-
光学平台STACIS主动隔振系统
, STACIS现在是嘈杂环境中敏感仪器的行业标准解决方案,它广泛应用于半导体晶圆厂、失效分析实验室、纳米技术研究、纳米加工设备和材料研究。 Stacis III包括一个新型改进的数字控制
-
MDPinline 晶圆片在线面扫检测仪
MDPinline是一种用于快速定量测量载流子寿命并集成扫描功能的检测仪。通过工厂安装的传送带将晶圆片移至仪器,在不到一秒的时间内,就可以“动态”测量出晶圆图。
-
进口扫描探针显微镜Park NX-Wafer Park原子力显微镜帕克原子力显微镜
更换、机器人晶片搬运能够扫描300 mm晶圆 点击查看大图为在线晶圆厂计量提供高生产率和强大特性光片和基板的自动缺陷检测新的300mm光片ADR提供了从缺陷映射的坐标转换和校正到缺陷的测量和放大
-
Park原子力显微镜扫描探针显微镜进口帕克原子力显微镜
、机器人晶片搬运能够扫描300 mm晶圆 点击查看大图为在线晶圆厂计量提供高生产率和强大特性光片和基板的自动缺陷检测新的300mm光片ADR提供了从缺陷映射的坐标转换和校正到缺陷的测量和放大扫描成像的
-
Park原子力显微镜帕克原子力显微镜Park NX-Wafer
布局 ]晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能提供晶圆
-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜AFM及扫描探针 样本
点击查看下载帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜AFM及扫描探针 样本相关资料,进一步了解产品。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确
-
AFM及扫描探针Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用于电子/半导体
点击查看下载AFM及扫描探针Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net