-
CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测,填补了半导体制造工艺中的重要空白
-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-WaferPark原子力显微镜 适用于表面测量
-
Park NX-WaferPark原子力显微镜AFM及扫描探针 应用于电子/半导体
准确和可重复的表面测量。高吞吐量晶圆厂检测和分析• 自动换针 • 设备前端模块(EFEM)用于自动晶圆传送 • 洁净室兼容性和远程控制接口 • 沟槽宽度、深度和角度测量的自动数据采集和分析 Park
-
Park NX-WaferPark原子力显微镜AFM及扫描探针 应用于纳米材料
分类。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能提供晶圆
-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜AFM及扫描探针 样本
点击查看下载帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜AFM及扫描探针 样本相关资料,进一步了解产品。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确
-
AFM及扫描探针Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用于电子/半导体
点击查看下载AFM及扫描探针Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用于电子/半导体相关资料,进一步了解产品。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓
-
Park NX-WaferAFM及扫描探针Park原子力显微镜 应用于纳米材料
点击查看下载Park NX-WaferAFM及扫描探针Park原子力显微镜 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确
-
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX-Wafer 应用于高分子材料
点击查看下载Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX-Wafer 应用于高分子材料相关资料,进一步了解产品。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确
-
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-WaferAFM及扫描探针 AFM干货分享:原子力探针显微术基础及其研究进展
-
AFM及扫描探针帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜 课件讲义
晶圆进行精确、可重复和可再现的亚埃级粗糙度测量,并最小化针尖的变量。即使对于扫描尺寸达到100μm×100μm的远距离波度,也能够获得非常准确和可重复的表面测量。高吞吐量晶圆厂检测和分析• 自动换针
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net