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天士立 晶体管动态特性测试系统 ST-AC1200
测试种类:Si(SiC/GaN)IGBT , Diode , MOSFET(选配BJT) 输出能力:电压最大1200V(选配2000V);电流最大100A(可扩展200A/300A/500A
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天士立 自动精密在线高低温试验箱 Wen-ZX
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模(魔)方测量模体
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天士立 分立器件静态参数测试系统 STD2000
测试对象:DIODE、MOSFET、IGBT、JFET、SCR、TRIAC、OPTO等25类半导体分立器件 测试项目:导通参数,截止参数,传输参数等,几乎涵盖所有静态参数 输出能力:电压MAX
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inVia™ Qontor®雷尼绍拉曼光谱仪 可检测Sic
导热性和较高的击穿场等显著的优点,而且具有化学惰性和热惰性。这些特性使其在晶体管(JFET、MOSFET、ETS)中(如高温电子器件)以及快速高压设备中具有非常广泛的应用。 inVia Qontor
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雷尼绍拉曼光谱仪inVia™ Qontor® 适用于inVia Raman分析Sic
和较高的击穿场等显著的优点,而且具有化学惰性和热惰性。这些特性使其在晶体管(JFET、MOSFET、ETS)中(如高温电子器件)以及快速高压设备中具有非常广泛的应用。 全新inVia™ Qontor
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雷尼绍 共焦显微拉曼光谱仪inVia™ Qontor® 为何选择Renishaw inVia Raman对氧化硅进行分析
击穿场等显著的优点,而且具有化学惰性和热惰性。这些特性使其在晶体管(JFET、MOSFET、ETS)中(如高温电子器件)以及快速高压设备中具有非常广泛的应用。 全新inVia™ Qontor®共焦
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天士立 元器件直流参数测试仪 ST-DC1600
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天士立 IGBT直流参数测试仪 ST-DC2002
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inVia™ InSpect拉曼光谱仪共焦显微拉曼光谱仪 适用于inVia Raman分析Sic
导热性和较高的击穿场等显著的优点,而且具有化学惰性和热惰性。这些特性使其在晶体管(JFET、MOSFET、ETS)中(如高温电子器件)以及快速高压设备中具有非常广泛的应用。 “雷尼绍inVia显微拉曼
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