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天士立 自动精密在线高低温试验箱 Wen-ZX
石英晶体谐振器、振荡器 电阻、电容、电感 光电耦合器 MEMS 声表面波器件(SAW Device) 集成电路二极管、三极管、场效应管(MOSFET) 、IGBT、SCR 独创的圆形内
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天士立 晶体管动态特性测试系统 ST-AC1200
测试种类:Si(SiC/GaN)IGBT , Diode , MOSFET(选配BJT) 输出能力:电压最大1200V(选配2000V);电流最大100A(可扩展200A/300A/500A
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ICP-1000Ⅱ型电感耦合等离子体发射光谱仪
技术指标射频发生器(RF):(1) 电路类型:他激式,由两支金属氧化物场效应管(MOSFET管)组成的推挽放大电路(2) 工作频率:27.12MHz±0.05%(3) 频率稳定性:
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天士立 元器件直流参数测试仪 ST-DC1600
n 测试种类:Diode、BJC、SCR、IGBT、MOSFET、JFET、 三端稳压IC、基准IC n 输出能力:电压 MAX 1600V,电流 MAX 2An 测试参数:耐压、压降
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ICP-2011电感耦合等离子体扫描型发射光谱仪
技术参数 射频发生器(RF): (1) 电路类型:他激式,由两支金属氧化物场效应管MOSFET管组成的推挽放大电路 (2) 工作频率:27.12MHz±0.05
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天士立 IGBT直流参数测试仪 ST-DC2002
n 测试种类:IGBT、Mosfet、Dioden IV输出:电压MAX 2000V 电流MAX 200A(可扩展)n 测试参数:IGBT 的 BVCES、ICES、IGES、VGE
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吉时利PCT参数曲线追踪器配置
测厚仪,玩具测试仪器,光学测试仪器,精密分析天平,高压电力测试仪,色谱仪,试验机,测试软硬件方案,测试仪器系统集成。 开发和使用MOSFET,IGBT,二极管和其他大功率器件需要全面的器件级特性,例如
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天士立 变温气流仪&热流仪 Wen-QLX
领域的高低温环境、温度冲击、失效分析等可靠性试验 如:晶圆、器件、功率模块、集成电路(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP、IGBT/MOSFET/Diode/BJT等) 闪存
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吉时利4200A-SCS 参数分析仪
, C-f, C-t)10 mHz - 10 Hz 低频率电容测量主要应用 MOSFET, BJT晶体管 材料表征 非易失性存储设备 电阻率系数和霍尔效应测量 NBTI
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美国TSI 大气粉尘监测仪
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