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inVia™ Qontor®雷尼绍拉曼光谱仪 可检测Sic
雷尼绍 共焦显微拉曼光谱仪inVia™ Qontor®参考多项行业标准Renishaw。完成Sic的检测。可以用在多个行业领域中的inVia Raman分析Sic项目。 碳化硅具有宽的带隙、高的
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inVia™ InSpect雷尼绍共焦显微拉曼光谱仪 可检测Sic
雷尼绍共焦显微拉曼光谱仪inVia™ InSpect可用于测定Sic,适用于inVia Raman分析Sic项目。并且参考多项行业标准Renishaw。可应用于多个行业领域。 碳化硅具有宽的带隙、高
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雷尼绍拉曼光谱仪inVia™ Qontor® 适用于inVia Raman分析Sic
雷尼绍拉曼光谱仪inVia™ Qontor®可用于测定Sic,适用于inVia Raman分析Sic项目。并且参考多项行业标准Renishaw。可应用于多个行业领域。 碳化硅具有宽的带隙、高的导热性
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XploRA PLUS拉曼光谱仪堀场HORIBA 可检测半导体4H-SiC
堀场HORIBA 智能型全自动拉曼光谱仪XploRA PLUS可用于测定半导体4H-SiC,适用于载流子浓度和厚度信息项目。并且参考多项行业标准Depth Profiling
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碳化硅SiC氮化镓GaN器件参数测试仪系统
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4H-SiC上镀4H-SiC薄膜
产品名称:4H-SiC上镀4H-SiC薄膜P型(4H-SiC?Epitaxial?Film?on?4H-SiC,?P?type)常规尺寸:dia4" ±0.5 mm x 0.525 ±0.025
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inVia™ InSpect拉曼光谱仪共焦显微拉曼光谱仪 适用于inVia Raman分析Sic
雷尼绍共焦显微拉曼光谱仪inVia™ InSpect可以用在多个行业领域,用来检测Sic,可完成inVia Raman分析Sic项目。符合多项行业标准Renishaw。 碳化硅具有宽的带隙、高的
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centrotherm SiC和GaN退火及石墨烯生长 Activator150
centrotherm SiC和GaN退火及石墨烯生长 Activator150centrotherm Activator 150 高温炉生产线专为硅-碳化合物(SiC)或镓-氮化
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centrotherm SiC和GaN退火及石墨烯生长 Activator150
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4H-SiC上镀4H-SiC薄膜
产品名称:4H-SiC上镀4H-SiC薄膜P型(4H-SiC?Epitaxial?Film?on?4H-SiC,?P?type)常规尺寸:dia4" ±0.5 mm x 0.525
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